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2024欢迎访问##黔东GH-PY80E-S4-41多功能表一览表
发布用户:yndlkj
发布时间:2024-09-19 10:56:54
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湖南盈能电力科技有限公司,专业仪器仪表及自动化控制设备等。主要产品有:数字电测仪表,可编程智能仪表,显示型智能电量变送器,多功能电力仪表,网络电力仪表,微机电动机保护装置,凝露控制器、温湿度控制器、智能凝露温湿度控制器、关状态指示仪、关柜智能操控装置、电流互感器过电压保护器、断路器分合闸线圈保护装置、DJR铝合金加热器、EKT柜内空气调节器、GSN/DXN-T/Q高压带电显示、干式(油式)变压器温度控制仪、智能除湿装置等。
本公司全系列产品技术性能指标全部符合或优于 标准。公司本着“以人为本、诚信立业”的经营原则,为客户持续满意的产品及服务。
此方案主要是利用变压器产生负电压在通过线性稳压器7905进行稳压。电源模块输出负电压由于电子元件工艺技术越来越好,能量损耗越来越低,这样一来越来越有利于电源的模块化发展。而且在设计上也能到小型化,轻型化设计。非隔离负压输出负电压如所示,此电源模块应用与常用的LM7805类似,而且不需要散热片。如上图,我们需要正负电压给运放等供电时,只需要两个E78xxOS-500电源即可实现。隔离电源模块输出正负电压在电力、工业、通讯等对抗干扰性能要求较高的场合,一般需要对电源进行隔离来隔离从总电源端的干扰。
接触式的测试方法中测温元件直接与被测介质接触,直接测得被测物体的温度,因而简单、可靠、测量精度高。经常用到的如所示:.功能单一的 测温仪产品的温升试验也是安规要求的一个重要部分,那么我们在设计一款产品时,如何实现经济而且便捷的测量呢?关电源中MOSFET和二极管会产生关损耗以及传导损耗、电感损耗包括线圈损耗和磁芯损耗、电容等造成的损耗,这些损耗 终都以热的形式展现出来,而过热又会降低元器件性能导致损耗加剧,所以了解无用功率损失在哪里很重要。
涡流探伤仪无损检测技术是一种在不破坏受检对象的前提下测定、评价物体内部或表层物理和机械性能及各类缺陷和其他技术参数的综合性检测技术。其应用范围随着科学与生产的发展日趋广泛。在汽车行业中涡流探伤仪无损检测的应用十分广泛。许多汽车零部件,如制动鼓、制动盘、轴颈、转向节等关键的安全件,如果零部件表面出现细微裂纹,或者内部有缺陷,在长期交变应力的作用下,裂纹会从外表逐渐向内发展,或者由内向外延伸,进而产生安全隐患。
滤波器在通信、事、测试测量等领域应用广泛,尤其在近几年的在微波及毫米波电路中有着广泛的应用。在低频段的应用中,集总参数滤波器有着良好的表现,但是随着频率升高到微波频段以上,集总参数元件(电容、电感)的Q值急剧下降,造成滤波器的插入损耗太大,这时就必须用分布参数元件来代替集总参数元件,但是分布参数元件滤波器的尺寸一般较大,因此有必要减小微波毫米波电路滤波器的尺寸。年 城市大学薛泉教授提出了一种紧凑的微带谐振器(CMRC),此后螺旋紧凑微带谐振器(SCMRC)以及直线紧凑微带谐振器(BCMRC)又相继被提出。
旋转编码器与高度监测电路相连,可实时监测测量车的中心高度,高度值由数码管显示屏显示。高度调节操作时,点按调高的上升、下降按钮,将高度调至合适高度即可。测量车体上设置装置,用于将测径仪固定在测量位置。装置具有横向调节功能,可以调节测径仪的左右位置,调节范围为3mm。该测径仪具有下列显著优点:从电路设计上解决了线材扭动问题。去掉了绕线材轴旋转的光机装置,从而使整机可靠性高,造价低。采用固体摄像器件(CCD)。
如果要对它们测量这类信号的能力进行评估,首先要有一台能产生这类信号的设备,市场上能输出这类信号的设备较少且价格昂贵。若使用信号发生器,频率范围通常都能满足要求,但信号发生器的输出电流较小,不足以直接驱动阻抗较低的电磁线圈;所以在普通的信号发生器与电磁线圈之间接入宽带功率放大器是一种较好的选择。以数字钳形表为例的测量系统示意图如下所示:测量原理如下:数字钳形表对交流电流的测量,实际上是利用磁感应线圈组成的钳头,去感应电磁线圈的磁场变化(磁通量变化),并产生相应的感应电动势(电压信号)到钳形表的采样电路,钳形表根据测量电压的大小计算电磁线圈的磁通量,而电磁线圈的磁通量变化大小与线圈通过的信号电流成正比,因此钳形表根据测量感应电压大小计算信号电流;根据欧姆定律可知,电磁线圈的信号电流为:线圈绕组两端电压/线圈绕组总阻抗,故测试所需的信号频率和信号电流的大小可以通过设置信号发生器频率和幅度来改变。
由于并行任务调度规划并不是固定的,在测试运行之前,软件无法确定测试任务的执行次序,从而也就无法确定测试通道的打通次序。那么,只能在测试任务运行时,根据UUT端口和被测参数来动态建立信号链路,并打通相应的通道。并行测试解决思路并行测试技术是对传统串行测试技术的突破和超越,思维方式与解决途径都发生了较大的变革,在大幅度提高测试效率的同时也带来了较多的挑战,下面逐一介绍解决思路。测试资源竞争和死锁问题解决思路概括起来讲,测试资源竞争问题解决思路就是八个字“用时申请,用后归还”。