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2024欢迎访问##舟山SYSSVG/4L-690V-50karB静止无功发生器厂家
发布用户:yndlkj
发布时间:2024-10-14 18:19:51
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湖南盈能电力科技有限公司,专业仪器仪表及自动化控制设备等。主要产品有:数字电测仪表,可编程智能仪表,显示型智能电量变送器,多功能电力仪表,网络电力仪表,微机电动机保护装置,凝露控制器、温湿度控制器、智能凝露温湿度控制器、关状态指示仪、关柜智能操控装置、电流互感器过电压保护器、断路器分合闸线圈保护装置、DJR铝合金加热器、EKT柜内空气调节器、GSN/DXN-T/Q高压带电显示、干式(油式)变压器温度控制仪、智能除湿装置等。
本公司全系列产品技术性能指标全部符合或优于 标准。公司本着“以人为本、诚信立业”的经营原则,为客户持续满意的产品及服务。
压控振荡器VoltageControlledOscillator(简称VCO)是射频电路的重要组成部分,在通信、电子、航天、及医学等诸多领域的用途十分广泛,尤其在通信系统电路中更是与功放具有同等重要地位的必不可少的关键部件。伴随采用新体制、新技术、新材料和新工艺的现代通信、雷达、电子干扰和电子侦察等电子信息系统的发展,对电子设备及其关键部件VCO的要求也越来越高,而VCO在端接不同负载阻抗下会出现频率偏移现象,由此导致电子设备工作不稳定甚至出现失效,产生严重影响,因此解决VCO的非线性特性(如频率牵引)测试问题并由此实现匹配显得日益重要和紧迫。
实际使用中,通电阻和关断电阻需要进行关速度与短路保护能力等性能的折衷,良好的设计值在2.2~5.1欧范围,因此实际关峰值电流在4~10A范围。驱动电源电路设计2.1电源拓扑设计该电源的输入是新能源乘用车常规的12V电源,该电源通常波动范围是8~16V,而驱动电源的输出需要相对稳定。需要设计多组宽压输入、定压输出的隔离电源。本设计把电源分成两级:前级电源实现宽压输入、定压输出功能,后级实现隔离功能,结构见.:电源拓扑示意图该结构的好处是:前级电源无需解决隔离问题,可以采用常规的SEPIC或buck-boost非隔离拓扑,而且前级电源的输出是无需隔离的低压定压,在布局布线中无需考虑各组电源间的爬电距离和电气间隙问题。
因此对位同步的要求非常高,要满足这样的要求只能使用的石英晶振(石英晶振的误差通常小于0.1%.)。图1位定时段(位速率和总线长度乘积为值)的规格图1所示为位定时段(位速率和总线长度乘积为值)的规格。这样的要求主要应用于工业自动化系统。如果对位速率和总线长度的要求不高,那么位速率和总线长度的乘积也因此降低,而用于重新同步的时间缓冲段则可延长。这样根据可能的同步跳转宽度,在一次重新同步中可校正|e|=4的相位误差。
为了测试准确,OTDR测试仪的脉冲大小和宽度要适当选择,按照厂方给出的折射率n值的指标设定。在判断故障点时,如果光缆长度预先不知道,可先放在自动OTDR,找出故障点的大体地点,然后放在 OTDR。将脉冲大小和宽度选择小一点,但要与光缆长度相对应,盲区减小直至与坐标线重合,脉宽越小越,当然脉冲太小后曲线显示出现噪波,要恰到好处。再就是加接探纤盘,目的是为了防止近处有盲区不易发觉。关于判断断点时,如果断点不在接续盒处,将就近处接续盒打,接上OTDR测试仪,测试故障点距离测试点的准确距离,利用光缆上的米标就很容易找出故障点。
半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
LED灯具作为节能项目的重要手段,正得到越来越广泛的应用。而大型LED灯具同样有相对较大的发热量,散热结构的好坏影响着LED灯具的质量及寿命,红外热像仪通过检测LED灯具散热器表面的温度分布,帮助工程师改善散热设计,提高LED灯具的产品质量及寿命。为什么要对LED灯具进行散热由于LED的功率在不断提高,及空间具有一定局限性,LED灯具散热成了比较突出的问题,需要发更加专业的散热器才能在今后满足LED灯具对于散热的更高需求。
不需要“先进”数字测试性能;但对于测试灵活性和功能的需求较大的情况,高速数字模块则尤其重要。测试系统和相关的数字子系统可以支持传统和当代电子组件组合的测试,因为这种测试系统被广泛用于现场服务产品以及在工厂中测试新代产品。更具体地说,现场部署的测试系统(中所示的VIPER/T)具有尺寸和功耗的附加限制—要求系统具有便携式,并且具有高可靠性。:VIPER/T测试系统数字子系统相关的功能包括:支持至少50MHz的矢量速率,每个引脚的时序,多个时间集和灵活的定序器。