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测试方法：启动测试：选择启动测试触发源为电平触发方式，触发电平设定为Va，当待测电源输出电压达到Va时，始测试；结束测试：选择结束测试触发源为电平触发方式，触发电平设定为Vb，当待测电源输出电压达到Vb时，停止测试；负载计算出两个触发信号之间的时间差，即为待测电源的上升时间。类似的方法可以测试电源模块的关机时间和下降时间。简单的电源、负载的搭建，无需软件控制，即可完成测试系统的传统测试项目。
多种测试模式介质损耗测试仪能够分别使用内高压、外高压、内标准、外标准、正接法、反接法、自激法等多种方式测试；在外标准外高压情况下可以高电压介质损耗。CVT测试一步到位介质损耗测试仪还可以测试全密封的CVT（电容式电压互感器）CC2的介损和电容量，实现了CC2的同时测试。介质损耗测试仪还可以测试CVT变比和电压角差。高速采样信号介质损耗测试仪内部的逆变器和采样电路全部由数字化控制，输出电压连续可调。
样品经色谱柱分离后收集,再经荧光分光光度计测荧光强度,影响因素多,测定复杂,后的液相色谱-荧光法则可以不经衍生化和收集分离物,只经化学除杂,浓缩后直接进样即可。用该法测定贯叶连翘中金丝桃素的含量也取得了较好的结果。液相色谱-示差折光测黄芪精口服液中黄芪甲苷的含量也都取得了较为满意的结果。对于只有紫外末端吸收,用紫外检测时灵敏度低,基线易漂移,示差折光检测其易受外界条件干扰,蒸发散射检测器能克服以上不足,响应值只与样品质量有关,其信号相应与质量成正比,不同化合物,质量相同则信号相应基本一致。
此类红外热像仪不需要制冷，且成本比量子探测器红外热像仪低。制冷型量子探测器采用锑华铟（InS、铟镓砷（InGaAs）或应变超晶格制成。这类探测器为光电探测器，即光子撞击像素点，转化为可存储于积分电容器的电子。像素采用的电子快门，通过断或短路积分电容器来控制快门。锑化铟(InSb)探测器热像仪，比如FLIRX69sc，在测量-2?C至35?C之间的物体温度时，其典型的积分时间可能低至.48μs。
复杂的多端口测试和非插入器件测量对测试精度而言是一个挑战。电子校准件连接方便、简单，在矢量网络分析仪多端口器件测量中具有独特优势，其两个基本功能为：全自动电子校准电子与机械的混合校准前者单独使用电子校准件完成校准，后者与机械校准件配合使用。本文重点介绍全电子与机械的混合校准。此方法相比前者略复杂，可兼容前者，且使用更加灵活。D矢量网络分析仪电子校准件是矢量网络分析仪新型校准件；机械校准是传统校准件。
IT51系列电池内阻测试仪是一款高精度,高稳定性的电池测试仪，可同时测量电池的内阻和电压。IT51可以把电池内阻的测试结果进行批量保存、统计分析，并且用列表或正态分布图显示统计结果。电池生产企业生产部门和研发部门可以根据电池内阻检测的分析结果，对电池的生产情况加以调整，进而提高产品的质量和安全。 近，某品牌因为其新款手机电池而在 范围内召回，使得这家科技巨头的电池成为了各界关注的焦点。
MOX传感器MCM设备的组成。测试系统需求为了测试这些设备，测试系统需要具备以下功能和属性：测试/校准MOX传感器的时间可能需要几十分钟。由于需要在真空和目标气体“浸泡”传感器，所以需要很长的“soak”时间。显然，使用大型、高性能的半导体测试仪，在soak期间需要闲置一段时间，这样不能有效的利用这些昂贵的资源。所以，解决方案必须具有较低的初始资本成本。测试吞吐量很重要。由于驻留时间长，因此系统必须支持非常大的并行测试能力，这样才能将soak时间内分摊到多个设备上DUT负载板必须位于一个可以对气体浓度进行控制的封闭环境中。