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2025欢迎访问##本溪KDAPF-400/300-L3有源电力滤波装置一览表
发布用户:yndlkj
发布时间:2025-04-21 22:18:49

2025欢迎访问##本溪KDAPF-400/300-L3有源电力滤波装置一览表
湖南盈能电力科技有限公司,专业仪器仪表及自动化控制设备等。电力电子元器件、高低压电器、电力金具、电线电缆技术研发;防雷装置检测;仪器仪表,研发;消防设备及器材、通讯终端设备;通用仪器仪表、电力电子元器件、高低压电器、电力金具、建筑材料、水暖器材、压力管道及配件、工业自动化设备销;自营和各类商品及技术的进出口。
的产品、的服务、的信誉,承蒙广大客户多年来对我公司的关注、支持和参与,才铸就了湖南盈能电力科技有限公司在电力、石油、化工、铁道、冶金、公用事业等诸多领域取得的辉煌业绩,希望在今后一如既往地得到贵单位的鼎力支持,共同创更加辉煌的明天!
在红外抄表等电路中,要用到38kHz载波来实现串口通讯,其串口就是普通的UART。本文总结出6种调制电路供大家参考。基于三态门的标准的调制方式:当UART_TX为低电平时,38kHz信号可以通过三态门。基于或门的调制方式:上图中,实际是当UART_TX和38kHz都为低电平时点亮红外发射管,是个逻辑或的关系。也可以用或门来实现,如下图:基于或非门的调制方式:当然也可以用或非门来实现,只是改用高电平点亮红外发射管,如下图:基于三态门的又一种标准的调制方式:调制要求的是基频信号有效时,让高频信号通过,其实高频信号的高电平或低电平点亮红外发射管都是可以的,下图是用的高电平点亮红外发射管:既然第1种方式实际实现了个逻辑或的关系,则输入的2个信号互换也是可以的。
一台流量计出厂校验其误差优于±0.5%,但是新的仪表到现场表后误差可能增至±5%~±10%并不罕见。造成这种情况的原因多种多样,如选型不合理,量程不合适,上下游直管段长度不足,不正确,流体物性偏离设计状态太大,工况条件超过允许值,脉动流影响,振动等环境条件太严酷等,还可以举出很多。因此流量测量是一个系统问题,包括检测装置、显示装置、前后直管段、辅助设备。而应用技术的研究,还包括测量对象本身,仅仅流量计本体性能好并不能保证获得要求的测量效果。
激光是上世纪6年代发展起来的一项新技术,是一种颜色很纯、能量高度集中、方向性很好的光。随着电子技术、激光技术等新型技术的飞速发展,激光测距仪顺应时代诞生。激光测距仪的工作原理十分简单:通过测定激光始发射到激光从目标反射回来的时间来测定距离,所以它是利用调制激光的某个参数实现对目标的距离测量的仪器,重量轻、体积小、操作简单,速度快而准确,其误差仅为其它光学测距仪的五分之一到数百分之一。这些优点集中于激光测距仪一身,使其市场情形一片大好。
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的,BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性,已足以保证待测样品分析测量的精度,被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素,在样品方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面:1.采样误差:非均质材料样品的代表性2.样品的:制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样:待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差:计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型:不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大,在多元素体系中,已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关,这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。
快速EMI骚扰来源RSRTE示波器利用其强大的频谱分析功能,再配合不同的近场探头可对电路中的骚扰来源进行快速准确的。高捕获带宽和频域轻松RSRTEFFT具有和频谱仪类似的设置界面。FFT设置对话框中了基本的频谱分析仪控制功能,如起始频率、终止频率以及分辨率带宽。采用FFT模式,自动调整相应时域设置,这使得在频域中成为轻松的工作。RSRTE也可在频谱分析的同时进行捕获信号的时域分析。
半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
从声级计上得出的噪声级读数,必须注明测量条件。检波器和指示表头?为了使经过放大的信号通过表头显示出来,还需要有检波器,以便把迅速变化的电压信号转变成变化较慢的直流电压信号。这个直流电压的大小要正比于输入信号的大小。根据测量的需要,检波器有峰值检波器、平均值检波器黑均方根值检波器之分。峰值检波器能给出一定时间间隔的值,平均值检波器能在一定时间间隔中测量其平均值。除了像炮声那样的脉冲声需要测量他的峰值外,在多数的测量中均采用方根值检波器。